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非接觸粗糙度測量儀主要應(yīng)用于:油墨厚度測量,MLCC厚度測量,厚膜電路測量,銀漿厚度測量,激光刻蝕測量,涂膠厚度測量,半導(dǎo)體、特種材料表面粗糙度測量等。
材料表面3D輪廓儀具有專業(yè)的測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機(jī)快又安全,維護(hù)成本更低。
白光干涉3D形貌測量儀具有專業(yè)的測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機(jī)快又安全,維護(hù)成本更低。
三維光學(xué)形貌儀具有3D測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或雷射,開機(jī)快又安全,維護(hù)成本更低。
納米白光干涉儀 表面細(xì)微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準(zhǔn)確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù),適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求,能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度測量、重構(gòu)表面形 貌3D輪廓。
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